| 2012年08月27日 |
| NIMS、有機EL材料の電子特性・光学特性の同時測定を実現 |
| 【カテゴリー】:新製品/新技術 【関連企業・団体】:なし |
物質・材料研究機構(NIMS)は27日、有機半導体材料のバンドダイアグラムに必要な電子特性と光学特性の両方の情報を、同時かつ大気中で測定できる装置を開発したと発表した。 測定は、紫外域から近赤外域の光を試料に照射して、反射または透過する光と、光電効果によって放出される電子を同時測定することによって行う。これにより、高速で正確なバンドダイアグラムを求めることができる。 試料を測定装置に一度セットするだけで、バンドダイアグラムに必要な電子特性と光学特性の両方を同時に得ることができ、測定の高速化と高精度化が実現できる。このため材料開発から測定への流れがスムーズになり、新材料開発の加速化が期待できるとみられている。 |